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Etude des effets des paramètres du courant de conduction "la caractéristique (I-V)" des structures MIS

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dc.contributor.authorAbidi, Larbi
dc.contributor.authorDris, Khelil
dc.date.accessioned2022-03-21T12:48:58Z
dc.date.available2022-03-21T12:48:58Z
dc.date.issued2018
dc.description.abstractL’application des composants Métal-Isolant-Semiconducteur (MIS) en électronique est basée sur la compréhension et le développement du concept du dispositif électronique. Toutefois, il existe des outils de simulation et modélisation permettant de comprendre non seulement la maitrise des composants mais aussi et surtout de maîtriser les paramètres limitatifs des performances de celles-ci. Afin de comprendre les effets des différents paramètres décuvant la caractéristique courant-tension(I-V) pour les structures MIS, un modèle simulant cette caractéristique I-V est utilisé en mode obscurité.en_US
dc.description.provenanceSubmitted by snv snv (dspace.snv@univ-tebessa.dz) on 2022-03-21T12:48:58Z No. of bitstreams: 2 MEMOIRE DE MASTER Etude des effets des paramètres du courant de conduction la caractéristique (I-.pdf: 31800075 bytes, checksum: 43c059fc66b6b968fbf522d78fae1314 (MD5) MEMOIRE DE MASTER Etude des effets des paramètres du courant de conduction la caractéristique (I-.pdf: 31800075 bytes, checksum: 43c059fc66b6b968fbf522d78fae1314 (MD5)en
dc.description.provenanceMade available in DSpace on 2022-03-21T12:48:58Z (GMT). No. of bitstreams: 2 MEMOIRE DE MASTER Etude des effets des paramètres du courant de conduction la caractéristique (I-.pdf: 31800075 bytes, checksum: 43c059fc66b6b968fbf522d78fae1314 (MD5) MEMOIRE DE MASTER Etude des effets des paramètres du courant de conduction la caractéristique (I-.pdf: 31800075 bytes, checksum: 43c059fc66b6b968fbf522d78fae1314 (MD5) Previous issue date: 2018en
dc.description.sponsorshipN. Rouagen_US
dc.identifier.urihttp//localhost:8080/jspui/handle/123456789/2263
dc.language.isofren_US
dc.publisherUniversite laarbi tebessi tebessaen_US
dc.titleEtude des effets des paramètres du courant de conduction "la caractéristique (I-V)" des structures MISen_US
dc.typeThesisen_US

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